製品情報 半導体テスタ　メーカー24社の製品一覧

高電圧、大電流を扱うパワー半導体のテストに特化し、特別な安全対策などが施されている。

システム内のさまざまな機能を持つカード／モジュールをテストの仕様に応じて組み合わせることで、ロジックやアナログ、RF、DC、イメージャーなど、半導体のあらゆる集積回路をテストが可能

ミックスドシグナルLSIテストシステム、リニアICテストシステム、LSI テストシステム

ケースレー4200A-SCS型パラメータ・アナライザ、ケースレーPCTパラメトリック・カーブ・トレーサ、ケースレー・パラメトリック・テスト・システム、ケースレー700シリーズ半導体スイッチング・システム、ケースレー自動特性評価スイート（ACS）ソフトウェア

動特性検査装置（ACテスター）、静特性検査装置（DCテスター）、過渡 熱抵抗（ΔmV）測定器、パワーサイクル（PCT、TFT）試験装置

動特性試験器、過渡熱抵抗テストシステム、静特性テストシステム、IPM/IGBTテストシステム、ダイオードテストシステム

複合試験装置、ダイオード試験装置、スイッチング試験装置、アバランシェ耐量試験装置

SoCテストシステム、VLSI試験システム、ピックアップ&プレースハンドラ

IC（ロジック）機能テスト、ボード上のデバイステスト、アナログICテスト、デジタルオシロ、テスト用電源などのモジュール群

偽造IC判別装置（ICのピンの電気特性を良品のデータと比較し、偽造品や不良品を判別）

半導体デバイス・アナライザ、パラメータ・アナライザ

プローバ一体型テストシステム(DC測定+アバランシェ耐量試験)、パワーデバイス用DCテスタ、IPD/IPMテストシステム、熱抵抗テスタ、L負荷テスタ（アバランシェ耐量）、ダイナミックテストシステム