製品情報 半導体テスタ メーカー25社の製品一覧
クリックランキング (2026年6月)半導体テスタとは
半導体テスタとは、IC（集積回路）を検査、試験する装置で半導体製造装置の1種である。ATE(Automated Test Equipment)や半導体検査装置とも呼ばれる。半導体製造工程において後工程の検査で使用される。半導体テスタの種類は、メモリテスタ、アナログICテスタ、ロジックICテスタ、SoCテスタなどがある。また、このカテゴリでは、有機ELやLCDなどの検査装置も掲載している。
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アドバンテスト
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パワー半導体テスト・システム
高電圧、大電流を扱うパワー半導体のテストに特化し、特別な安全対策などが施されている。
- メモリ・テスト・システム
- SoCテスト・システム
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SoCテスト・システム
システム内のさまざまな機能を持つカード／モジュールをテストの仕様に応じて組み合わせることで、ロジックやアナログ、RF、DC、イメージャーなど、半導体のあらゆる集積回路をテストが可能
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シバソク
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半導体テストシステム
ミックスドシグナルLSIテストシステム、リニアICテストシステム、LSI テストシステム
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コペル電子
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パワー用半導体検査装置
動特性検査装置（ACテスター）、静特性検査装置（DCテスター）、過渡 熱抵抗（ΔmV）測定器、パワーサイクル（PCT、TFT）試験装置
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テセック
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テストシステム
プローバ一体型テストシステム(DC測定+アバランシェ耐量試験)、パワーデバイス用DCテスタ、IPD/IPMテストシステム、熱抵抗テスタ、L負荷テスタ（アバランシェ耐量）、ダイナミックテストシステム
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ウインテスト
- アナログ・ミックスドシグナルIC検査装置
- 有機EL/LCD/LCOSアレイ/CCD/CMOSイメージセンサー検査装置
- デジタル出力CMOSイメージセンサー及びロジックIC検査装置
- LCD/PDP/有機ELドライバIC検査装置
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キーサイト・テクノロジー
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パラメータ／デバイス・アナライザ、カーブトレーサ
半導体デバイス・アナライザ、パラメータ・アナライザ
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キャッツ電子設計
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半導体テストシステム
動特性試験器、過渡熱抵抗テストシステム、静特性テストシステム、IPM/IGBTテストシステム、ダイオードテストシステム
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ケースレーインスツルメンツ
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半導体試験システム
ケースレー4200A-SCS型パラメータ・アナライザ、ケースレーPCTパラメトリック・カーブ・トレーサ、ケースレー・パラメトリック・テスト・システム、ケースレー700シリーズ半導体スイッチング・システム、ケースレー自動特性評価スイート（ACS）ソフトウェア
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ABI Electronics
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SYSTEM 8 Diagnostic Solution
IC（ロジック）機能テスト、ボード上のデバイステスト、アナログICテスト、デジタルオシロ、テスト用電源などのモジュール群
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SENTRY Counterfeit IC Detector
偽造IC判別装置（ICのピンの電気特性を良品のデータと比較し、偽造品や不良品を判別）
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クロマジャパン
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半導体・ICハンドラ関連テストソリューション
SoCテストシステム、VLSI試験システム、ピックアップ&プレースハンドラ
【ご注意】 ここで紹介する製品・サービスは企業間取引（B To B）の対象です。各企業とも一般個人向けには対応しておりませんのでご承知ください。
半導体テスタのクリックランキング
2026年6月 BEST10
| 順位 | 企業名 | クリック割合 |
|---|---|---|
| 1 | アドバンテスト | 13.3% |
| 2 | イノテック | 11.1% |
| 3 | テラダイン | 7.8% |
| 4 | 日本マイクロニクス | 6.7% |
| 4 | シバソク | 6.7% |
| 6 | ダイトロン | 5.6% |
| 6 | コペル電子 | 5.6% |
| 8 | テセック | 4.4% |
| 8 | 四国計測工業 | 4.4% |
| 8 | ウインテスト | 4.4% |
※クリック割合(%)＝クリック数／全企業の総クリック数 このランキングは選択の参考にするもので、製品の優劣を示すものではありません。
