"タカノ 画像計測部門" の製品情報一覧
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タカノ 画像計測部門
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半導体/電子部品 外観検査装置
ウェーハ表面検査装置、ウェーハ外観検査装置、電子部品向けウェーハ検査装置、バンプ高さ測定装置、TSV・トレンチ高速深さ測定、 SiC/GaNウェハマーカ
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フィルム外観検査装置
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FPD外観検査装置
高精細外観検査装置、シール断線検査装置、ムラ検査/膜厚測定装置