製品情報 X線検査装置　メーカー32社の製品一覧

X線を照射し金属やその他の異物を発見することから、異物を含んだ製品をラインから除去することまで対応

蛍光X線分析装置、X線吸収分光装置、ナノX線CT顕微鏡、マイクロX線CT顕微鏡

X線検査装置、位相コントラストX線CTシステム、X線CT用ソフトウェア、計測用X線CTシステム

ハンドヘルドXRF分析計、小型蛍光X線（XRF）分析計、プロセス用XRF分析システム、X線回折装置（XRD）

マイクロフォーカスX線源により、微小な内部欠陥を非破壊で可視化

異物だけでなく、検査品の形状不良や数量不足も検査が可能

リチウムイオン電池の自動検査、半導体の自動検査装置など

マイクロフォーカスX線透過検査装置、CR、工業用ポータブルＸ線装置

対象物を非破壊で検査する工業用のアナログ／デジタルX線システム

産業用CTスキャナ、マイクロフォーカスX線検査装置、小型X線透視検査装置、インライン・オフライン検査装置

Safeline X線検査システム

CCシリーズ、FFシリーズ、UXシリーズ

カラーイメージインテンシファイヤー（カラーI.I.™）の使用により、高感度ワイドダイナミックレンジの透過画像をリアルタイムで得ることができる。

大きな検体を丸ごとCTスキャン、高密度金属・複合材も撮像可能、高精度な内部観察、欠陥解析が可能

測定対象物：単層メッキ、2層メッキ、3層メッキ、合金メッキ

マイクロフォーカスＸ線源と高解像度センサーの組み合わせによる高詳細撮像と、実績ある画像処理技術で高精度な検査を実現

◦樹脂パッケージ内部金線ワイヤー自動検査装置、IGBT多層ボイドX線検査装置、多ピンICワイヤX線検査装置

半導体向け

FPDは解析用途向け、ボード系エレクトロニクス部品対応など

3次元CTに加え、直視・斜め撮影・検査に対応したX線検査装置。C4はんだバンプ自動検査やLTH内部メッキ充填状態の自動検査等に対応し、SMT実装工程や半導体製造プロセスの品質向上に貢献。