製品情報 測定検査装置 メーカー28社の製品一覧
クリックランキング (2024年11月)測定検査装置とは
測定検査装置とは、半導体製造工程での電気的特性、光学特性、形状・寸法測定などの測定検査のための装置。半導体に限らず、工業生産されるものは生産ラインの各工程において常に欠陥が監視され、歩留まり率向上や信頼性確保のための解析とフィードバックが実施される。電子機器の生産では欠陥品の修正もあるが、半導体の場合は一部に例外はあるものの修正はほぼ不可能で、欠陥の除去、再発防止、選別などを目的とした検査となる。
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KLA
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Automated defect analysis and data management system
"Klarity(R)" 歩留まり解析ソフト/システム
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Wafer defect inspection system
ウェーハ形状/特性測定装置、欠陥/異物検査装置、歩留まり解析ソフト/システム
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エスペック
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計測・評価システム 半導体関連装置
絶縁抵抗測定・リーク電流測定、導体抵抗測定、DC電流印加試験、電気特性評価システム
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アドバンテスト
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SEMメトロロジー/レビュー
走査型電子顕微鏡(SEM)の技術を応用し、フォトマスクやウェーハ上の配線パターンなど微細な表面構造を高精度かつ安定的に測定
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クロマジャパン
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LED総電力試験システム
LEDチップスポット測定システム
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プレシテック
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非接触厚さ・反り検査装置
非破壊光学測定技術により、半導体チップ (ウェーハ) の超精密測定と分析が可能
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コベルコ科研
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半導体測定・評価装置
ライフタイム測定装置、平坦度・形状測定装置、魔鏡システム、エッジ・ノッチ形状測定装置、エッジロールオフ測定装置、ソーティングシステム・移載機、貼り合せ評価・エッジ欠陥検査装置、結晶性評価装置(FPD)
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日立ハイテク
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半導体計測・検査装置
高分解能FEB測長装置、設計データ応用計測システム、欠陥レビューSEM、ウェーハ表面検査装置、暗視野式ウェーハ欠陥検査装置
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浜松ホトニクス
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プラズマプロセスモニタ
エッチング、スパッタ、CVD等のプロセス中のプラズマ発光をリアルタイムでモニタするシステム
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SCREENセミコンダクターソリューションズ
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検査装置
パターン付ウェーハ外観検査装置
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黒田精工
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超精密表面形状測定装置
ウェーハ用平坦度測定装置、円盤用表面形状測定装置
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コムス
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液晶視野角特性評価システム
視野角測定において、液晶パネルの位置制御+液晶表示画像制御+分光輝度計データ収集を自動測定
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ウェハ厚み測定システム
専用ソフトによる簡単な設定で高精度な位置決めと非接触レーザ変位センサ2台による、ウェハの表面・裏面の変位測定
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リガク
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半導体計測装置
波長分散型蛍光X線分析装置、反射率、エネルギー分散型蛍光X線分析、光学素子、全反射蛍光X線分析装置、高分解能X線回折装置、X線トポグラフィ装置、結晶方位測定装置、CD SAXS
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コアーズ
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リフローシミュレータ
加熱形状変化を3D動画変化で計測観察
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清和光学製作所
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半導体・パッケージデバイス検査装置
ハンダボールリペア装置、ウエハー外観検査装置、ウエハーレビュー装置、表裏パターンずれ検査装置、マイクロLED検査&リペア装置、狭ベゼル対応レーザーボンディング装置、ダイレクトレーザーソルダリング装置
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FPD検査装置
シール剤断線検査装置、パネル貼り合せズレ検査装置、パーテイクル検査装置、スペーサー検査装置、Wave Line 検査装置
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山梨技術工房
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ウェハ表面検査装置 / 透明基板検査装置
SiC/GaN関連 ウェハ表面検査装置、ウェーハ表面検査装置
表面パーティクルスキャナ
【ご注意】 ここで紹介する製品・サービスは企業間取引(B To B)の対象です。各企業とも一般個人向けには対応しておりませんのでご承知ください。
測定検査装置のクリックランキング 2024年11月 BEST11
順位 | 企業名 | クリック割合 |
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1 | KLA | 47.6% |
2 | エスペック | 9.5% |
3 | アドバンテスト | 4.8% |
3 | 日立ハイテクサイエンス | 4.8% |
3 | NPS | 4.8% |
3 | 岩崎通信機 | 4.8% |
3 | シキノハイテック | 4.8% |
3 | クロマジャパン | 4.8% |
3 | プレシテック | 4.8% |
3 | 東レエンジニアリング | 4.8% |
3 | コベルコ科研 | 4.8% |
※クリック割合(%)=クリック数/全企業の総クリック数 このランキングは選択の参考にするもので、製品の優劣を示すものではありません。