製品情報 ICハンドラ　メーカー13社の製品一覧

Die Level Test Handler, SoC Test Handler, Memory Test Handler, Pressure Sensor Stimulus

測定結果に基づき指定のスティックへ分類収納する高速テストハンドラ

パーツフィーダ及びリニアフィーダより供給されたデバイスを、設定温度条件下(常温・超低温・超高温)で検査を行い、テーピング収納する装置

３温度の測定環境を構築し、信頼性試験 AEC-Q100にも対応

車載用センサーを、設定温度環境下(高温・常温)でテストするハンドラ

IGBT用デバイスを自動供給、接続したテスタにより電気特性の測定を行うとともに、画像処理装置による外観検査を行う。

LED検査／分類用

MEMSハンドラ, ストリップテストハンドラ, フィルムフレームテストハンドラ, ダイソーター, 自重落下ハンドラ, TABハンドラ, 水平搬送ハンドラ, タレットタイプハンドラ, ICタグハンドラ

低温ICハンドラ、直線移動型ICハンドラ、ターンテーブル型ICハンドラ、キャリア循環型ICハンドラ、インライン型検査機、低温・高温連続基板搬送炉型

32個同時測定対応、4個/8個同時測定対応、8/16個同時測定対応

各種IC（QFN/LGA/CSP/QFP等）を自動搬送し、本装置に接続されたテスターにて電気特性試験を行い、良品/不良品の各トレイに分類収納を行うトレイtoトレイタイプのハンドラ。

ディスクリート、IC/LSI/パワー、外観検査、高温/低温、電子部品、WLCSP/ベアダイ

IGBT、MOSFET、およびその他のパワーデバイスのテストに最適なソリューション。TO247、TO220、D2Packなど。