"アドバンテスト" の製品情報一覧
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                アドバンテスト
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                    SEMメトロロジー/レビュー走査型電子顕微鏡(SEM)の技術を応用し、フォトマスクやウェーハ上の配線パターンなど微細な表面構造を高精度かつ安定的に測定 
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                    SoCテスト・システムシステム内のさまざまな機能を持つカード/モジュールをテストの仕様に応じて組み合わせることで、ロジックやアナログ、RF、DC、イメージャーなど、半導体のあらゆる集積回路をテストが可能 
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                    テスト・ハンドラDie Level Test Handler, SoC Test Handler, Memory Test Handler, Pressure Sensor Stimulus 
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                    SoCテスト・システム
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                    メモリ・テスト・システム
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                    パワー半導体テスト・システム高電圧、大電流を扱うパワー半導体のテストに特化し、特別な安全対策などが施されている。 
 
            


 
            





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